Fakulteta za strojništvo
Univerza Maribor
Rules
Only words with 2 or more characters are accepted
Max 200 chars total
Space is used to split words, "" can be used to search for a whole string (not indexed search then)
AND, OR and NOT are prefix words, overruling the default operator
+/|/- equals AND, OR and NOT as operators.
All search words are converted to lowercase.
Vrstična elektronska mikroskopija - SEM
V UCEM-u uporabljamo dva vrstična elektronska mikroskopa za različne vzorce:
Vrsta vzorcev | Prevodni | Neprevodni | Vlažni | Umazani, mastni | Ločljivost |
+ | + | + | + | 3,5 nm pri 30 kV (visoki vakuum) 3,5 nm pri 30 kV (ESEM način) 15 nm pri 3 kV (nizki vakuum) | |
+ | + | - | - | 1,0 nm pri 15 kV 2,0 nm pri 1 kV |
Primeri uporabe vrstične elektronske mikroskopije:
Karakterizacija materialov s FIB/SEM
Karakterizacija materialov s FIB/SEM (fokusiranim ionskim snopom na vrstičnem elektronskem mikroskopu) je ena izmed najnaprednejših metod za analizo materialov. Omogoča hkratno fizikalno obdelavo materialov s fokusiranim snopom in fotografiranje odkritih površin vzorcev pod površino. Metoda je bila uporabljena v najnovejši študiji (2015) površin obdelanih z laserjem in objavljena v eni najuglednejših revij s področja raziskav površin materialov: Applied Surface Science; Damage caused by a nanosecond UV laser on a heated copper surface, V. Henč-Bartolić , T. Bončina, S. Jakovljević, P. Panjan, F. Zupanič. V raziskavo so bili vključeni ugledni raziskovalci iz UM FS, IJS in Univerze iz Zagreba.
Razvoj celičnih kultur
Z navedeno opremo je možno karakterizirati tudi razvoj različnih celičnih kultur, ki rastejo na kontaktnih površinah biomaterialov. Prikazujemo celice L929, ki so se kultivirale ob enakih pogojih na dveh različnih površinah: a) na polirani NiTi zlitini oziroma b) na površini s plazmo obdelane NiTi zlitine.
Merjenje debeline plasti na različnih vzorcih
Drugi primeri uporabe SEM: merjenje hrapavosti, preučevanje lomne površine kovin, karakterizacija materialov, merjenje korozije, dimenzijske meritve pri nanometrski velikosti, itd.
Karakterizacija materialov s STEM detektorjem
Rasterska presevna elektronska mikroskopija (scanning electron transmission microscopy – STEM) je zmožnost mikroskopa za združevanje principov, ki se uporabljajo v presevnih elektronskih mikroskopih (TEM) in rasterskih elektronskih mikroskopčih (SEM). STEM je priljubljena tehnika za laboratorije brez presevnega elektronskega mikroskopa (TEM). Detektorji STEM razširijo sposobnosti slikanja in analitično moč sistemov SEM in FIB-SEM s pridobivanjem edinstvenih informacij, ki jih dobimo s presevnimi elektroni. Vzorce, analizirane s to tehniko, je treba pripraviti v obliki tankih lamel z debelino <100 nm. Ta tehnika se lahko uporablja v kombinaciji z elementarno analizo, kot sta EDX in EBSD, za mikroanalizo vzorcev pri visoki ločljivosti.
Presevni elektroni razpršeni skozi vzorec v različnih kotih, podajajo različne podatke iz vzorca. Na voljo so naslednji signali:
- Signal svetlega polja (Bright Field – BF) predstavlja tipičen kontrast orientacije Braggove difrakcije in absorpcijski kontrast pri lamelah.
- Temno polje (Dark Field – DF) vsebuje delni orientacijski kontrast in materialni kontrast lahkih elementov.
- Visoko kotno temno polje (High Angle Dark Field – HADF) vsebuje največji materialni kontrast z najmanjšim kontrastom Braggove difrakcije.
Razpršilni koti so odvisni od materiala vzorca, debeline lamele in energije elektronskega žarka. Detektor STEM omogoča preiskovanje strukture v bioloških vzorcih, analizo napak v polprevodniških napravah in karakterizacijo materialov.
Mikroskopa na UCEM omogočata priklop STEM detektorja, s katerim nam je omogočeno opazovati značilnosti na nanometrskem nivoju.